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温高压老化箱_高温高压蒸煮仪_PCT磁性材料老化试验箱

温高压老化箱_高温高压蒸煮仪_PCT磁性材料老化试验箱

产品详情

温馨提示:以下参数仅参考,准确参数请咨询客服,我们支持非标定做!

PCT老化箱(又名PCT高压加速老化试验机)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。

广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。

PCT老化箱内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。

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